Dispositif de test multicouche de la carte mère QianLi iSocket pour iPhone 15

QianLi MEGA-IDEA iSocket iPhone 15 Series 8 en 1, support de test multicouche pour carte mère. Support de test Qianli iSocket 15 Series pour iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max. Cadre de test multicouche pour carte mère Mega-Idea 15 Series avec plateforme de reballage pour les tests de fonctionnement de la carte mère iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max. 

Option:
1. Norme Qianli iSocket série 15 :
- Cadre en alliage d'aluminium 15 en 8 pour iPhone série 1
- Tableau d'affichage iPhone 15 Pro/15 Pro Max (version CN).
- Tableau d'affichage iPhone 15/15 Plus (version CN).
- Pochoir de reballage pour iPhone 15/15Plus/15Pro/15 Pro Max (version CN).
- Pochoir de reballage pour iPhone 15/15Plus/15Pro/15 Pro Max (version américaine).
En option : tableau d'affichage iPhone 15 Pro/15 Pro Max version US.

2. Norme MEGA-IDEA iSocket série 15 :
- Cadre iPhone 15 série 8 en 1
- Tableau d'affichage iPhone 15 Pro/15 Pro Max (version CN).
- Tableau d'affichage iPhone 15/15 Plus (version CN).
- Pochoir de reballage pour iPhone 15/15Plus/15Pro/15 Pro Max (version CN).
- Pochoir de reballage pour iPhone 15/15Plus/15Pro/15 Pro Max (version américaine).
En option : tableau d'affichage iPhone 15 Pro/15 Pro Max version US.

Différence entre la version CN et la version US de l'iPhone 15Pro/15 Pro Max :
Version CN : avec emplacement SIM.
Version US : sans emplacement SIM.

Caractéristiques :
1. Cadre de test en couches de carte mère QianLi/Mega-Idea 8 en 1 avec plate-forme de reballage 8 en 1 pour iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max.
2. Dispositif de test de carte mère de la série QianLi 15 utilisant des sondes à ressort BeCu importées avec une bonne conductivité, une surcharge stable et un petit écart de valeur numérique de test, la sonde conique n'est pas facile à tacher avec de la colophane et de la soudure.
3. La sonde à double tête aligne avec précision les petits trous pour améliorer les performances de contact, appuyez sur la boucle fixe, de sorte que la carte mère ne se déforme pas et que les données de test soient plus précises.
4. Libérez les maîtres de réparation des problèmes de test des cartes mères en couches, économisez de nombreux processus compliqués et rendez les tests de la carte mère simples et rapides.
5. Pour une utilisation sans joint, placez la carte mère inférieure et la carte mère supérieure en alignement, puis empilez-les tour à tour sur la base du support de cadre de test.
6. Placez le joint sur la base du cadre, puis placez la carte mère inférieure, la carte mère supérieure et la carte mère inférieure en alignement et empilez-les tour à tour sur la base du support du cadre de test.