Dispositif de test multicouche de la carte mère 15 en 4 de la série iPhone 1 de XZZ

Supports de test de carte mère XZZ série Phone15 pour réparation de carte mère iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max. Appareil de test en couches 15 en 4 pour carte mère XZZ série iPhone 1 avec sondes à ressort plaquées or pour tester la fonction de la carte mère de la série iPhone 15 avant l'installation.

Option:
1. Fixation de la carte mère de la série XZZ 15 : version de la carte SIM.
2. Fixation de la carte mère de la série XZZ 15 : version eSIM US.

Attention :
1. La version enfichable de la carte SIM dispose d'un trou pour insérer la carte, mais l'eSIM n'a pas de trou, il n'est donc pas nécessaire d'insérer la carte et le numéro de téléphone portable peut être écrit directement.
2. Les États-Unis utilisent la version eSIM américaine, tandis que d'autres pays utilisent la version carte SIM. Si vous devez réparer votre iPhone (version américaine) ultérieurement, vous pouvez simplement acheter une version américaine du tableau d'affichage.

Caractéristiques :
1. Cadre de test de délaminage XZZ 15, prise 4 en 1 pour réparation de carte mère d'iPhone 15/15 Plus/15 Pro/15 Pro Max. Pour iPhone 15 Pro/15 Pro Max, version insertion de carte SIM/eSIM US.
2. Le dispositif de test de carte mère de la série XZZ 15 résout le problème de laminage et de délaminage répétés lors du processus de réparation de la carte mère.
3. En utilisant une sonde à ressort en cuivre-béryllium de haute qualité, avec une bonne conductivité, une stabilité de surcharge du produit, un faible écart de valeur de détection et plus de précision, la sonde conique n'est pas facile à obtenir de la colophane, de la soudure.
4. Fonctionnement simple et rapide, facile à utiliser.