Dispositif de test de restauration Nand JCID N-XS pour iPhone XR-XS Max

Dispositif de test de restauration de la mémoire Nand JCID N_XS pour carte mère d'iPhone XS/XS MAX et flashage de la mémoire Nand XR/XS/XS Max. Fonction DFU à une touche permettant à la carte de démarrage d'entrer rapidement en mode DFU.

Caractéristiques :
1. Le dispositif de test de restauration N XS Nand prend en charge la restauration de la carte mère de l'iPhone XS et XS Max et le flashage de la puce Nand de l'iPhone XR/XS/XS Max.
2. Prend en charge le clignotement de l'iPhone XS/XS Max avec une seule couche supérieure.
3. Fonction DFU à une touche, permet à la carte de démarrage d'entrer rapidement en mode DFU.
4. Prise mobile, pratique pour tester la carte mère et la Nand.
5. Prise en charge de l'installation de piles à l'intérieur, résolution des problèmes d'alimentation électrique insuffisante via USB et de clignotement instable.

Précautions:
Pour tester la Nand (flashage), les utilisateurs doivent préparer les éléments suivants :
Carte mère XS ou XSMax x1pc.  
Batterie d'origine XS x1pc.