Banc de test multicouche pour circuit imprimé QIANLI MEGA-IDEA iSocket iPhone série 17

Le banc de test multicouche QianLi MEGA-IDEA iSocket pour cartes mères d'iPhone 17/17 Air/17 Pro/17 Pro Max est conçu pour le test fonctionnel de ces cartes. Ce banc de test multicouche 4-en-1 pour cartes mères d'iPhone 17 offre un alignement précis, des sondes de haute qualité et une grande facilité d'utilisation. Il est spécialement conçu pour la réparation des iPhone 17.

Option:
1. Qianli iSocket pour iPhone 17/17 Air/17 Pro/17 Pro Max.
2. MEGA-IDEA iSocket pour iPhone 17/17 Air/17 Pro/17 Pro Max.

Caractéristiques :
1. Alignement précis : les sondes à double tête dotées de petits trous d’alignement améliorent les performances de contact, et la conception du clip de fixation empêche efficacement le soulèvement de la carte mère, garantissant ainsi des données de test précises.
2. Sondes de haute qualité : Utilise des sondes à ressort en cuivre-béryllium importées, offrant une excellente conductivité, une faible déviation de la valeur de détection et une grande stabilité en cas de surcharge. La conception conique des sondes évite l’adhérence de la résine et de la soudure, améliorant ainsi leur durée de vie et leur précision.
3. Usinage CNC de haute précision : Utilisation de machines-outils CNC pour un usinage de précision, garantissant des normes élevées dans les moindres détails et améliorant la stabilité et la précision de l'équipement.
4. Utilisation pratique et rapide : La conception de la boucle à ressort permet un rebond rapide et une installation rapide, réduisant ainsi le temps d'utilisation.
5. Conception antidérapante : Équipé de pieds antidérapants pour augmenter la stabilité et éviter les glissements ou les dommages.

Paramètres du produit:
Nom : Banc de test pour cartes mères multicouches iSocket
Marque : Qianli/Méga-idée
Matériel: alliage d'aluminium
Fonction : Test de carte mère, rebillage BGA

Étapes de fonctionnement:
1. Placez la couche inférieure de la carte mère sur la base du dispositif de test.
2. Fixez la plaque de la sonde sur la couche inférieure de la carte mère.
3. Fixez la couche supérieure de la carte mère sur la plaque de la sonde.
4. Alignez et fixez le couvercle du dispositif de test, en vous assurant que les deux ailes sont bien fermées.